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三民書局
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國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究 [電子書] = A research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment / 陳慧娟作
- 作者： 陳慧娟
- 其他作者：
- 其他題名：
- Research on the market access opportunity of the domestic high-end semiconductor test equipment
- 科技專案成果
- 經濟部技術處產業技術知識服務計畫 ;
- 出版： 高雄市 : 金屬中心 2016[民105]
- 叢書名： 科技專案成果 , 經濟部技術處產業技術知識服務計畫 ;MIRDC-105-S303
- 主題： 半導體工業 , 技術發展 , 市場分析
- 版本：初版
- ISBN： 9789865662585 (電子資源): NT$3000
- URL：
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- 一般註：2017上半年逢甲聯盟iRead eBook華藝電子書 檢索形式:電子書服務平台 參考書目: 面95-96
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- 系統號： 000261777 | 機讀編目格式
館藏資訊
半導體高階產品製程朝向愈益微小、精細化發展，在晶片設計與功能日益複雜下，檢測設備的性能要求愈趨精密。未來半導體製程朝向18吋發展的過程中，全球半導體客戶對於檢測設備的要求愈趨嚴格。漢微科於電子束檢測設備為業界龍頭地位，高階光學檢測設備則以美商科磊居市場領先地位。目前台灣半導體設備廠商尚未進入高階半導體光學檢測製程設備市場，國內廠商與國外大廠的技術頗有差距。在半導體檢測關鍵製程設備技術部分，國內半導
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