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發明專利實體審查基準(一) = Guidelines for substantive examination of invention patent / 蔡瑟珍著.

  • 作者： 蔡瑟珍 著
  • 其他題名：
    • Guidelines for substantive examination of invention patent.
  • 出版： 臺北市 : 經濟部智慧財產局 2008[民97].
  • 叢書名： 智慧財產培訓學院教材 ;5
  • 主題： 專利 , 標準
  • 版本：初版3刷
  • ISBN： 9789860051612 (平裝): NT250
  • 一般註：參考書目: 面[183] 附錄: 1, 與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs); 2, 專利法; 3, 專利法實施細則
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  • 系統號： 000229548 | 機讀編目格式

館藏資訊

專利審查與產業發展息息相關，審查品質提昇乃需長期累積經驗，尋求共同基準，本書將依現行專利審查基準第二篇發明專利實體審查第一、二、三章內容有系統的加以介紹，希望讓學習者對實務及體系有清楚認識與瞭解。

資料來源： 三民書局
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